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Fachartikel 2010
Raster-Kelvinkraft-Mikroskopie zur quantitativen Dotierprofilierung an dotiertem Silizium und Mn-implantiertem Germanium
Christiane Baumgart, Shengqiang Zhou, Manfred Helm, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf e.V.
Die Untersuchung elektrischer Materialeigenschaften auf der Nanometerskale ist von großer Bedeutung für die Materialforschung sowie für verschiedene Industriezweige. Eine besondere Rolle spielt dabei die quantitative Bestimmung von Dotierprofilen in dotierten Halbleitermaterialien. Die Kenntnis d...
Christiane Baumgart, Shengqiang Zhou, Manfred Helm, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf e.V.
Die Untersuchung elektrischer Materialeigenschaften auf der Nanometerskale ist von großer Bedeutung für die Materialforschung sowie für verschiedene Industriezweige. Eine besondere Rolle spielt dabei die quantitative Bestimmung von Dotierprofilen in dotierten Halbleitermaterialien. Die Kenntnis d...
Fachartikel 2009
Magnetfelder optimieren Metalllegierungen - Forschen für das optimale Gefüge
Dr. Sven Eckert, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf e.V.
Anja Schue, Leica Microsystems GmbH
Wie Flüssigkeiten auch ohne direkte Hitzezufuhr oder Berührung in heftige Wallungen versetzt werden, kann jeder beobachten, der ein rohes Ei in der Mikrowelle explodieren lässt. Elektromagnetische Kräfte können aber auch über 1000 °C heiße Metallschmelzen in Bewegung bringen. In der Arbeitsgruppe...
Dr. Sven Eckert, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf e.V.
Anja Schue, Leica Microsystems GmbH
Wie Flüssigkeiten auch ohne direkte Hitzezufuhr oder Berührung in heftige Wallungen versetzt werden, kann jeder beobachten, der ein rohes Ei in der Mikrowelle explodieren lässt. Elektromagnetische Kräfte können aber auch über 1000 °C heiße Metallschmelzen in Bewegung bringen. In der Arbeitsgruppe...