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   Erklärung des Begriffs "Rasterkraftmikroskopie"

Diese Methode dient zur Oberflächendarstellung. Mit einer an einer Blattfeder befestigten „atomaren“ Nadel wird die Probe in einem definierten Raster abgetastet. Durch die atomaren Kräfte wird der Abstand zur Oberfläche konstant gehalten. Die Verbiegung der Blattfeder wird durch Reflexion von Laserlicht mit optischen Sensoren aufgenommen und zeilenweise dargestellt.



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