SPECTRO Analytical Instruments

ICP-OES-Datenanalyse durch den Rückspiegel



Vor allen den Fortschritten in der Halbleitertechnologie ist es zu verdanken, dass heutige ICP-OES-Systeme erheblich weniger komplex konstruiert sind als noch vor wenigen Jahren. Außerdem wurden hierdurch neue Methoden der Gerätesteuerung, einschließlich der Messdatenerfassung bzw. deren Auswertung möglich, wodurch heutige ICP-OES robuster, präziser und stabiler sind.

Mittels postanalytischer Bearbeitung von Messdaten können optimale Parameter gewählt und die Richtigkeit der Analyse verbessert werden. Auch Elemente, die ursprünglich nicht Teil der Aufgabenstellung waren, lassen sich so ohne eine erneute Analyse der Probe berechnen. Angesichts dieser vielfältigen Möglichkeiten ist die lückenlose Rückverfolgbarkeit von Daten in den Fokus gerückt. Nur so lassen sich die Anforderungen akkreditierter Laboratorien erfüllen.


» Programmdetails und Anmeldung


Veranstalter:
SPECTRO Analytical Instruments
Veranstaltungstyp:
Webinar
Termin:
22.03.2018
Land:
Deutschland

Kontaktdaten:
SPECTRO Analytical Instruments GmbH
Boschstraße 10
D-47533 Kleve

Tel.: +49 (0)2821 / 892-0
Fax: +49 (0)2821 / 892-2200
Mail: Anfrage versenden Kontakt
Web: www.spectro.de