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Seminare, Tagungen und Messen für Labor und Analytik

AnalytikSupportMultivariate Auswertetechniken in der ICP OES



Sie sind Anwender eines Array ICP Emissionsspektrometers, in dessen Software die Möglichkeit der multivariaten Auswertung vorhanden ist (MSF beim Optima, FACT beim Vista bzw. 7X0-Serie von Agilent, ehemals Varian) und Sie wollen

  • spektrale Störungen oder den spektralen Untergrund besser korrigieren als mit herkömmlichen Auswertetechniken?
  • das Nachweisvermögen Ihrer Methode in realen Matrices verbessern?
  • die Methodenentwicklung einfacher gestalten?
  • das Leistungsvermögen Ihres Gerätes besser ausnutzen?

In diesem Kurs werden Sie in praxisorientierten Vorträgen und mit Übungen an einem PC die Möglichkeiten und Grenzen dieser Auswertetechnik kennenlernen.

Zielgruppe:

Dieser Kurs richtet sich an Gerätenutzer, die Grundkenntnisse der Bedienung der jeweiligen Software besitzen und Fähigkeiten in der Anwendung der multivariaten Auswertetechniken erwerben oder verbessern wollen.

Inhalt:

  • Grundlagen der multivariaten Auswertung
  • Vergleich zu konventionellen Auswertetechniken
  • Randbedingungen, welche die Anwendbarkeit entscheidend beeinflussen
  • Vorbereitung und Strategie zur Aufnahme von Modellspektren
  • Spektrenbewertung und -zuordnung am PC
  • Ergebnisvergleich
  • Feinoptimierung der Modelle


—> Programmdetails und Anmeldung


Veranstalter:
AnalytikSupport
Veranstaltungstyp:
Seminar
Termin:
25.11.2016
Ort:
Stein am Rhein
Land:
Deutschland

Kontaktdaten:
AnalytikSupport
Dr. Joachim Nölte
Rietweg 5
CH-8260 Stein am Rhein

Tel.: +49 (0)173 / 90 97 73 7
Fax: +41 (0)52 / 74 16 32 2
Mail: Anfrage versenden Kontakt
Web: www.analytiksupport.de

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