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Seminare, Tagungen und Messen für Labor und Analytik

AnalytikSupportFehlersuche in der ICP OES



In diesem Kurs werden die Grundlagen der ICP OES im Hinblick auf Fehlermöglichkeiten aufgefrischt und ergänzt. Anhand von typischen Beispielen, die nach Absprache auch von den Kursteilnehmern kommen können, wird die Herangehensweise zur Fehlersuche und -behebung gemeinsam erarbeitet.

Inhalt:

  • Was beeinflusst die Stabilität des Plasmas?
  • Einfluss der Materialien des Probeneinführungssystems
  • spektrale und nicht-spektrale Störungen
  • Wie kann man durch geschickte Signalauswertung und Untergrundkorrektur das Ergebnis "retten"?
  • Einfluss der Kalibrierung
  • Wie wirken sich Umwelteinflüsse wie Temperatur oder Luftdruck aus?
  • Schlauchpumpe und Drift, Präzision und Matrixeinflüsse
  • Optik und Detektor
  • Gerätejustage
  • chemische Einflüsse
  • "schwierige" Proben: sehr hohe Salzkonzentrationen, Partikel in der Lösung, organische Anteile
  • Fehler bei der Korrekturtechniken (interner Standard, Inter-Element-Korrektur, ...)


—> Programmdetails und Anmeldung


Veranstalter:
AnalytikSupport
Veranstaltungstyp:
Seminar
Termin:
15. - 16.09.2016
Ort:
Stein am Rhein
Land:
Deutschland

Kontaktdaten:
AnalytikSupport
Dr. Joachim Nölte
Rietweg 5
CH-8260 Stein am Rhein

Tel.: +41 (0)52 / 74 16 32 3
Fax: +41 (0)52 / 74 16 32 2
Mail: Anfrage versenden Kontakt
Web: www.analytiksupport.de

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