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Seminare, Tagungen und Messen für Labor und Analytik

Division Analytische Wissenschaften der SCGSchichtdickenmessung und Analytik von Schichten: Wirbelstrom, Magnet-Induktion, Coulometrie, Röntgenfluoresenzenz (ED-XRF) und Beta-Rückstreu Verfahren


Ziel:

Die funktionskritischen Eigenschaften eines Bauteils hängen oftmals von seiner Oberfläche ab. Um Kosten zu sparen, und um die geforderten Eigenschaften trotzdem erreichen zu können, werden hochwertige Beschichtungen auf kostengunstigen Trägermaterialien aufgebracht. Die exakte Prufung solcher Beschichtungen ist unerlässlich. Daher sind Messungen der Dicke und der Zusammensetzung von Schichten uber sämtliche Industriebereiche weit verbreitet. Grunde fur die Notwendigkeit der strikten Kontrolle von Oberflächenschichten sind unter anderem:

  • Aussendimensionen von Passteilen
  • Mangelnde Schutzwirkung von zu dunnen Schichten
  • Schlechte Hafteigenschaften von zu dicken Schichten
  • Zu hohe Kosten beim Aufbringen von zu grossen Mengen

Mittels verschiedener Messverfahren können die Dicke und die elementare Zusammensetzung von Oberflächenschichten im Bereich Nano- bis Millimeter schnell und einfach bestimmt werden. In dieser Veranstaltung werden die verschiedenen Messmethoden und deren Einsatzmöglichkeiten vorgestellt. Anhand von bestehenden Anwendungen werden Beispiele aus der Praxis aufgezeigt.

Unterstutzt wird die Veranstaltung durch die praktische Vorfuhrung einiger der vorgestellten Messmethoden. In der anschliessenden Diskussionsrunde kann auf individuelle Fragestellungen eingegangen werden.

Inhalt:

  • Elektromagnetische Verfahren (Wirbelstrom, Magnet-Induktion)
  • Coulometrisches Verfahren
  • Röntgenfluoreszenz (ED-XRF)
  • Beta-Ruckstreuverfahren
  • Einsatzmöglichkeiten der Messmethoden
  • Anwendungsbeispiele aus der Praxis
  • Vorfuhrung verschiedener Messungen
  • Diskussionsrunde mit Behandlung individueller Fragestellungen

Durchfuhrung / Arbeitsweise:

Fachvortrag mit Einbezug des Auditoriums, Gerätevorfuhrungen, Diskussion.

Zielgruppe:

Personen aus Forschung und Endwicklung, Qualitätssicherung und behördlicher Überwachung, die sich mit der Bestimmung von Schichten, deren Dicke und/oder Zusammensetzung befassen.


—> Programmdetails und Anmeldung


Veranstalter:
Division Analytische Wissenschaften der SCG
Veranstaltungstyp:
Seminar
Termin:
19.10.2016
Ort:
Dübendorf
Land:
Schweiz

Kontaktdaten:
Sekretariat Weiterbildung SCG / DAS
Frau Verena Schmid
EAWAG
Überlandstrasse 133
CH-8600 Dübendorf

Tel.: +41 (0)58 / 765 52 00
Fax: +41 (0)58 / 765 58 01
Mail: Anfrage versenden Kontakt
Web: www.scg.ch

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