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05.08.2015

50 Jahre Rasterelektronenmikroskopie


ZEISS feiert den 50. Jahrestag der kommerziellen Rasterelektronenmikroskopie. Im Jahr 1965 fertigte die Cambridge Instrument Company, ein in Großbritannien ansässiges Unternehmen, das heute zur Carl Zeiss Microscopy Ltd gehört, das erste kommerzielle Rasterelektronenmikroskop (REM) Stereoscan. Zu Ehren des ersten REM-Verkaufs vor 50 Jahren und der Beiträge der Rasterelektronenmikroskopie zur wissenschaftlichen Forschung in vielen Bereichen und Branchen, war ZEISS Gastgeber einer Festveranstaltung in Cambridge. In Gesprächen, beim Mittagessen und einer Museumstour hatten Kunden und Spezialisten aus vielen Disziplinen die Möglichkeit, sich mit Wissenschaftlern auszutauschen, die an der Entwicklung der ersten kommerziellen REMs mitgearbeitet hatten.

Nach 50 Jahren kontinuierlichem Wachstum und Entwicklung ist das REM immer vielseitiger geworden und hat sich als unverzichtbares Instrument für die High-End-Forschung in vielen wissenschaftlichen Disziplinen etabliert. Mit neuen industriellen Anwendungen, die jedes Jahr hinzukommen, ist das REM ein wichtiger Teil der Forschung und Entwicklung sowie der Qualitätskontrolle und -analyse in zahlreichen Branchen weltweit. Ursprünglich im Bereich der Materialwirtschaft angesiedelt, hat das REM inzwischen einen festen Platz in Disziplinen wie Elektronik, Forensik und Archäologie. Im Laufe der Jahre hat es sich zu einem unentbehrlichen Instrument für Lebensmitteltechnologen, Biologen, Geologen und Petrologen in der Rohstoffindustrie entwickelt und wurde gezielt an deren spezielle Anforderungen angepasst. Auch der Einsatz von REMs in der Prozesskontrolle und Fehleranalyse ist mittlerweile weit verbreitet. Rasterelektronenmikroskopische Routineverfahren sind üblich in der Halbleiter-, Automobil- und Fertigungsindustrie.

Die Entwicklung setzt sich fort: Direkter Nachfolger der ersten Mikroskope in Cambridge aus dem Jahr 1965 ist die ZEISS EVO Familie. Seit 2004 am Markt, gilt ZEISS EVO als die führende Analyseplattform der Industrie. Neue Entwicklungen bringen mehr Flexibilität, Benutzerfreundlichkeit und eine Weiterentwicklung der Detektoren mit sich. Die ZEISS GeminiSEM Familie besitzt ein neues optisches Design. Nutzer erzielen eine bessere Auflösung, insbesondere bei niedriger Spannung. Mit einem 20-mal größeren Inlens-Detektionssignal erhalten sie immer gestochen scharfe Bilder - schnell und mit minimaler Probenschädigung.

Quelle: Carl Zeiss Jena GmbH




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