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02.03.2015

Photonics Prism Award 2015 für RISE-Mikroskopie


WITec und Tescan sind Gewinner des diesjährigen Photonics Prism Award. Eine Expertenjury hat dem korrelativen RISE Mikroskop den international renommierten Preis in der Kategorie "Messtechnik" zuerkannt. Der Photonik Prism Award wird jährlich von der Internationalen Gesellschaft für Optik und Photonik (SPIE) und dem Verlagshaus Photonics Media an Topinnovatoren der internationalen Photonik-Branche verliehen. Dieses Jahr wurden die Gewinner aus mehr als 130 Bewerbungen ausgewählt.

Die RISE Mikroskopie ist eine weltweit einzigartige korrelative Mikroskopietechnik, die erstmals konfokales Raman Imaging mit Scanning Electron (RISE) Mikroskopie in einem Mikroskop zusammenführt. Diese Kombination eröffnet für den Mikroskop-Anwender neue Möglichkeiten zur umfangreichen Probenanalyse: Mit der Elektronenmikroskopie können Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich sichtbar gemacht werden, die konfokale Raman Mikroskopie ist eine weitverbreitete Spektroskopie-Methode, die hochaufgelöst Informationen über die molekularen Bestandteile einer Probe liefert. Sie wird zur Erstellung von chemischen 2D- und 3D-Bildern und Tiefenprofilen verwendet, um die Verteilung der Probenbestandteile visuell darzustellen. Mit dem RISE Mikroskop ist es erstmalig möglich, SEM- und Raman-Bilder von derselben Probenregion aufzunehmen und dadurch ultra-strukturelle mit chemischen Informationen zu verbinden.

Das RISE Mikroskop wurde im Rahmen des von der EU geförderten UnivSEM Projekts von TESCAN und WITec gemeinsam entwickelt. "Der Gewinn des Prism Awards 2015 für das RISE Mikroskop ist ein weiteres eindrucksvolles Beispiel für die enorme innovative Stärke bei WITec", freut sich Dr. Olaf Hollicher, WITec Geschäftsführe R&D. "Wir sind unheimlich stolz darauf, nun schon zum zweiten Mal nach 2011 unter dem Gewinnern zu sein", so Hollricher weiter.

Im RISE Mikroskop sind alle Funktionen und Möglichkeiten eines eigenständigen SEMs und eines konfokalen Raman Mikroskops integriert. Beide Techniken haben eine hohe Auflösung die für die Elektronenmikroskopie im sub-Nanometerbereich, für Raman beugungsbegrenzt bei 200 - 300 Nanometer liegt. Die Probe kann im Raman Imaging Modus in einem Bereich von 250 µm x 250 µm x 250 µm analysiert werden. Durch die vielfältigen Einsatzmöglichkeiten ist die RISE Mikroskopie für zahlreiche Anwendungsgebiete wie Nanotechnologie, Geologie Materialwissenschaften oder Life Science geeignet.

Quelle: WITec GmbH




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