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01.09.2009

Neue Plattform für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse vorgestellt


Anlässlich der Microscopy Conference 2009 in Graz (Österreich) präsentiert Carl Zeiss eine integrierte Lösung für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse. Kernelemente der Verbindung zwischen Lichtmikroskop und Rasterelektronenmikroskop sind der gemeinsame Probenhalter und Adapter sowie ein neuentwickeltes Softwarepaket zum schnellen, automatisierten Wiederauffinden und Untersuchen ein und derselben Probenstelle sowohl unterm Licht- als auch im Elektronenmikroskop. Die "Shuttle & Find" genannte Lösung für die Materialanalyse kann in der Forschung und für viele Routineanwendungen im industriellen Umfeld eingesetzt werden. Nach Abschluss erster, gemeinsam mit Pilotkunden durchgeführter Applikationsentwicklungen, wird Shuttle & Find in Kürze allgemein verfügbar sein. Die jetzt präsentierte Lösung ist zunächst nicht für biologische Anwendungen einsetzbar.

Während lichtmikroskopische Aufnahmen auf Reflexion, Transmission oder Fluoreszenz basieren, bietet das Rasterelektronenmikroskop - neben der um mehr als zwei Größenordnungen höheren Ortsauflösung - eine Vielzahl weiterführender Analysemöglichkeiten. Dies sind insbesondere die morphologische Charakterisierung der Probe sowie die Elementanalyse mittels Röntgenspektroskopie (EDX). In der Regel werden Proben zunächst im Lichtmikroskop unter Einsatz verschiedener Kontrastverfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation und Interferenz untersucht. Anschließend erfolgt die Detailuntersuchung der Probenareale im Rasterelektronenmikroskop, die als interessant identifiziert wurden.

"Shuttle & Find" von Carl Zeiss für die korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse ist eine einfach zu bedienende Schnittstelle zwischen Licht- und Elektronenmikroskop. Sie verbindet aufrechte und inverse Lichtmikroskope vom Typ SteREO Discovery, Axio Imager, Axio Observer mit motorisiertem Tisch sowohl mit sämtlichen ZEISS Rasterelektronenmikroskopen wie EVO, SIGMA, SUPRA, ULTRA, MERLIN als auch mit den ZEISS CrossBeam workstations AURIGA, NVision und NEON (Kombination Rasterelektronenmikroskop und fokussierter Ionenstrahl zur Materialbearbeitung). Innerhalb weniger Minuten ist der Probentransfer von einem System zum nächsten möglich, ebenso kann die betrachtete Materialprobe auch in örtlich getrennten Labors per Proben- und Datentransfer bearbeitet werden. Im Rasterelektronenmikroskop werden die lichtmikroskopisch selektierten Probenstellen in Sekundenschnelle automatisch wiedergefunden und können einer Detailuntersuchung unterzogen werden. Ergänzend zu zahlreichen Einzelanalysen der licht- und elektronenmikroskopischen Bilder können diese per dezidierter Software auch ortsgenau zur weiteren Informationsgewinnung überlagert werden.

Dr. Thomas Albrecht, Leiter des Produktmanagements im Geschäftsbereichs Nano Technology Systems von Carl Zeiss SMT betont: "Als weltweit einziger Anbieter, der sowohl Licht- als auch Elektronenmikroskope entwickelt, produziert und vertreibt, ist Carl Zeiss prädestiniert, Lösungen für die korrelative Mikroskopie zu entwickeln. Mit dem heute vorgestellten Interface gehen wir einen weiteren Schritt in die Richtung, die zwei bislang weitgehend unabhängigen Welten der Licht- und Elektronenmikroskopie zum Nutzen unserer globalen Kundengemeinschaft zusammenwachsen zu lassen. Ganz im Sinne unseres Mottos 'Bridging the Micro and Nano World'."

Quelle: Carl Zeiss Jena GmbH




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