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Thema: Re: Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung von Nanopartikeln

Autor(in): Stefan Kunze am 10. Januar 2005 um 08:07:42

Antwort auf: Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung von Nanopartikeln eingetragen von Stephanie Scholz am 20. Dezember 2004 um 08:56:05

Eine allgemeine Bemerkung:
Man sollte auch an die Kalibrierung des Scanners denken, insbesondere an Systemen ohne Positions-Sensoren (open-loop). Hier gilt: Möglichst in der Größenordnung kalibrieren, wo dann auch gemessen wird.



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