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03.12.2015

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. Mikroskopie-Konferenz MC 2015 - Experten präsentierten Trends und neueste Forschungsergebnisse

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.


Am 11. September 2015 ging die "Microscopy Conference 2015" (MC 2015) in Göttingen mit Erfolg zu Ende. Rund 900 Teilnehmer aus Europa und Übersee trafen auf dem Campus der Universität zusammen. "Nach dem großen Erfolg der MC 2009 in Graz, 2011 in Kiel und 2013 in Regensburg präsentierte die MC 2015 in Göttingen Highlights der neuen Entwicklungen in der Messtechnik sowie hervorragende Ergebnisse in Materialwissenschaften und Life Sciences", so Tagungspräsident Prof. Dr. Michael Seibt, IV. Physikalisches Institut der Georg-August-Universität Göttingen. Veranstaltet von der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e. V. (DGE), hatte die Tagung die Bereiche Materialwissenschaften, Instrumente und Methoden sowie die Lebenswissenschaften zum Schwerpunkt. Gemeinsam mit dem Göttinger SFB 1073 (Atomic Scale Control of Energy Conversion) wurde erstmals ein gemeinsames Symposium zum Thema 'Dynamic Microscopy for Energy Conversion' veranstaltet.

Ein spektakulärer Start der MC 2015 war der Eröffnungsvortrag von Prof. Stefan W. Hell, Göttingen und Heidelberg, der 2014 für seine "Entwicklung hochauflösender Fluoreszenz-Mikroskopie" mit dem Nobelpreis für Chemie geehrt wurde und seine revolutionären Arbeiten zur Lichtmikroskopie vorstellte. Bei der Eröffnung wurde außerdem der angesehene Ernst-Ruska-Preis 2015 - benannt nach dem Erfinder des Elektronenmikroskops - vom Vorsitzenden der DGE, Dr. Michael Laue, an Prof. Dr. Jian-Min Zuo (University of Illinois, USA) und an die beiden Lebenswissenschaftler Dr. John Briggs (EMBL, Heidelberg) und Prof. Dr. Jürgen Plitzko (MPIB, München) verliehen. Nach dieser Einstimmung erwartete die Teilnehmer ein spannendes wissenschaftliches Programm. Auch an den folgenden fünf Tagen gab es interessante Vorträge. So gab Tim Salditt (Universität Göttingen) Einblicke in die Abbildung mit Röntgenstrahlen auf der Nanometerskala und Joachim Mayer (RWTH Aachen und ERC Jülich) berichtete über die aktuellen Fortschritte der aberrationskorrigierten Elektronenmikroskopie, die in den letzten Jahren eine revolutionäre Entwicklung genommen hat.

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