Unsere Seite auf

Fachartikel aus Labor, Analytik und Qualitätskontrolle

01.02.2013

Shimadzu Europa GmbH Infrarot-Mikroskopie - Fehlstellenanalyse an einer Leiterplatte

Marion Egelkraut-Holtus Kontakt, Shimadzu Europa GmbH


Mit der ATR-Mikroskopie lässt sich eine Materialprüfung zerstörungsfrei durchführen. ATR bedeutet abgeschwächte Totalreflexion (Attenuated Total Reflection). Die Messung identifiziert nicht nur das Material, sondern auch dessen physikalische Gegebenheiten. Was verursacht zum Beispiel Fehlstellen bei Leiterplatten, etwa Kavernen, Blasen oder Fehlen einer Substanz? Das ist wichtig zu wissen für die Herstellung der Platte oder ihren Gebrauch. Wie kann man die Störung identifizieren? - Die Infrarotspektroskopie gibt hierauf Antworten.

—> Artikel lesen




—> alle Fachartikel dieser Firma

Abonnieren:

Empfehlen: